X熒光光譜儀基于不同的檢測原理，可分為波長色散型X熒光光譜儀與能量色散型X熒光光譜儀，我們一起來看下這兩款X熒光分析儀的對(duì)比。
波長色散型X熒光光譜儀（WDXRF）是基于布拉格衍射原理設(shè)計(jì)的高精度分析儀器，通過X射線管激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線，利用分光晶體將不同波長的熒光分離后，由探測器測量其強(qiáng)度以實(shí)現(xiàn)元素定性與定量分析。該儀器覆蓋Be至U元素范圍，具有高分辨率（如氟化鋰200晶體可精確分辨鈦到銀的Kα線）和低檢出限（ppm級(jí)），適用于地質(zhì)礦物、金屬材料等領(lǐng)域的精確分析。其核心優(yōu)勢在于分光系統(tǒng)通過機(jī)械掃描動(dòng)態(tài)調(diào)整晶體與探測器角度，可實(shí)現(xiàn)全元素覆蓋，但需定期維護(hù)真空系統(tǒng)與分光晶體，且設(shè)備體積較大、成本較高。
能量色散型X熒光光譜儀（EDXRF）則基于X射線量子特性，采用超薄石墨烯窗SDD探測器直接測量熒光能量分布，無需分光晶體。該儀器支持F至U元素檢測，分辨率可達(dá)123eV（Mn Kα線），并具備多元素同步分析能力。其優(yōu)勢在于體積小巧（手持式設(shè)備功率達(dá)45kV）、響應(yīng)速度快（2-5分鐘完成分析），且支持空氣、真空、氦氣三種測試環(huán)境，適用于現(xiàn)場快速篩查（如土壤重金屬檢測）或工業(yè)質(zhì)檢（如金屬鍍層厚度測量）。然而，其光譜分辨率略低于WDXRF，且對(duì)輕元素（如F）的檢測能力有限。
技術(shù)差異與適用場景
分光機(jī)制：WDXRF依賴分光晶體衍射，需機(jī)械掃描調(diào)整角度，而EDXRF通過探測器電壓脈沖直接分辨能量，無可動(dòng)部件。
檢測效率：EDXRF可同時(shí)檢測所有元素，而WDXRF需逐元素掃描（掃描型）或固定晶體組合（同時(shí)型）實(shí)現(xiàn)多元素分析。
應(yīng)用場景：WDXRF適用于實(shí)驗(yàn)室高精度分析（如合金成分溯源），EDXRF則更側(cè)重現(xiàn)場快速檢測（如環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)質(zhì)檢）。
維護(hù)成本：WDXRF需定期維護(hù)真空系統(tǒng)與分光晶體，EDXRF因無機(jī)械部件，維護(hù)成本較低。
波長色散型與能量色散型X熒光光譜儀各有側(cè)重：前者以高分辨率與全元素分析能力見長，適用于精密分析；后者以便攜性與快速響應(yīng)為核心優(yōu)勢，滿足現(xiàn)場檢測需求。用戶可根據(jù)檢測精度、樣品形態(tài)及場景需求，選擇適配的儀器類型。